Re: [請益] 2t 遊戲用SSD選擇(flashid數據研究)

好讀
https://www.ptt.cc/PC_Shopping/E.9MBefSMfttdw

先幫樓主拍拍，三爽v6真的雷自己就算了還雷到別人
現在SSD貴森森也只能送修，奇妙的是創見還允許用戶拒用三爽顆粒XD

以下99%內容都是腦補出來的，請看看就好

=

研究了一下樓主flashid給出來的資料，這是很有研究價值的東西
不過裡面的數據並不能完全相信

1.未有官方解釋 2.幾乎只能靠字面意義來推敲，縮寫也很難懂
而且很多的數值都是空的(-1或0)，單位更不用說
看到有fail之類的不要自己嚇自己，也別拿這個去和原廠盧，就當參考用

進入主題
一. smi_nvme_flash_id.txt
https://i.imgur.com/EMhw8Bg.png

1.三星v6 136L TLC顆粒、原廠測試壞塊19個、三星D4 DRAM
(創見到底三爽DRAM庫存壓多深==)
2.搞不懂FBlock意思

這是我們看flashid最主要的檔案，上面會有控制器、韌體、顆粒等資訊
精華是下面的遙測(telemetry)數據，這些是控制器所記錄的內部資料
由於NVMe SMART項目都標準化
只能從遙測看以前SATA SSD能看出的ECC、重定位、壞塊資料
而台廠群聯和慧榮的資料剖析方式都有被攻破了
(螃蟹、英韌、聯芸我沒有玩過，所以不知道有無相關資料)

下面的遙測(不同控制器項目會較少，或是可解讀項目不同)
https://i.imgur.com/waNbtUj.png

ECC理論順序為硬LDPC=>(read retry)=>軟LDPC=>RAID ECC
向右修正能力越強但越費時間，SMI整套稱為NANDXtend技術

硬LDPC解碼不行的話就得...

1.TLC read retry(重讀)
重讀就是來回調整電壓看能不能讀出正確數據

2.ECCUnc(軟LDPC失敗)
重讀也不行就得用軟LDPC，耗時較大
正常來說多少會出現的，切勿慌張，因為還有RAID ECC這招

3.重定位和XOR Fail都有相同數值
XOR就是奇偶校驗，也是RAID ECC的原理之一
猜測RAID ECC為最後防線，可以理數值和重定位次數相同
連RAID ECC也沒有辦法就宣告無法恢復了，也就出現ECC錯誤事件

這是我最近從網拍買的MTE220S 512GB(美光/Spectek AS等級96L TLC)
可以看到僅軟LDPC失敗有紀錄，RAID ECC無失敗紀錄
https://i.imgur.com/0hvjNfY.png

實際沒跳0E
https://i.imgur.com/TP3i0L2.png

自用了超過五年的MTE220S 512GB(美光/自封64L TLC)
這條用比上面那條還久，沒想到都沒軟LDPC失敗，可能64L舊顆粒體質更好
https://i.imgur.com/I1nFUWz.png

實際也沒跳0E
https://i.imgur.com/7moRYcT.jpeg

-

二. 至於smi_nvme_flash_id_ec.txt這個是顆粒的磨損值
ec應該為Erase Count(抹除次數)，裡面的BAD數量可對應前述19個壞塊

三. smi_nvme_flash_id_smart.txt就單純的NVMe SMART數據
用CrystalDiskInfo也能見到
不過下面有溫度警告的統計次數

四. 那真的壞掉的案例呢?
之前有板友tyf99用Klevv C720爆0E的案例，今天終於能當教材了

phison_e12_flash_id_ec.txt
前面提過這是顆粒的磨損數據
https://i.imgur.com/AVGmBIq.png
可以看到有一整排BAD，這個就是"1片"晶片壞掉
群聯的數據可以看到單獨的晶片，慧榮的好像不行
(正常來說一定都有壞塊的，但不可能這樣整欄BAD，請不要拿這個和客服盧)

phison_nvme_flash_id_smart.txt也有顯示ECC錯誤，包含RAID ECC也沒救
https://i.imgur.com/zxFf1bq.png

SSD外觀顆粒內部是好幾片晶片疊起來
你能看到M.2 2230 TLC用一顆2TB，裡面其實就高達16片NAND Flash晶片
當然SSD正反面貼那麼多顆，全部加起來也會有很多片晶片

--

姊姊 姊姊 我們好像變成簽名檔了

雷姆 雷姆 好像真的是這麼一回事呢

--

炸翻XD

個人理解是位於故障區域的資料被用戶操作動到，確認ECC錯誤後才會記錄下來 所以有些三星SSD是用魔術師工具箱"完整掃描"才爆出0E 不然就得等控制器主動refresh碰到 我其實很想寫一篇用Linux nvme-cli自我檢測SSD的文章，但都懶得寫